« BUFIT : OUTIL D’INJECTION DE DÉFAUTS DYNAMIQUES À GRAIN FIN POUR LES TESTS DE GATE ARRAY PROGRAMMABLES SUR TERRAIN INTÉGRÉS ». REVUE ROUMAINE DES SCIENCES TECHNIQUES — SÉRIE ÉLECTROTECHNIQUE ET ÉNERGÉTIQUE 69, no. 3 (septembre 29, 2024): 299–304. Consulté le janvier 26, 2026. https://journal.iem.pub.ro/rrst-ee/article/view/519.