« BUFIT : OUTIL D’INJECTION DE DÉFAUTS DYNAMIQUES À GRAIN FIN POUR LES TESTS DE GATE ARRAY PROGRAMMABLES SUR TERRAIN INTÉGRÉS », RRST-EE, vol. 69, nᵒ 3, p. 299–304, sept. 2024, doi: 10.59277/RRST-EE.2024.69.3.8.