BUFIT : OUTIL D'INJECTION DE DÉFAUTS DYNAMIQUES À GRAIN FIN POUR LES TESTS DE GATE ARRAY PROGRAMMABLES SUR TERRAIN INTÉGRÉS (REVUE ROUMAINE DES SCIENCES TECHNIQUES — SÉRIE ÉLECTROTECHNIQUE ET ÉNERGÉTIQUE, 2024)
L'injection de fautes (FI) est une méthode bien connue pour attaquer physiquement les systèmes embarqués, en particulier les FPGA et les microcontrôleurs avancés. Le système embarqué basé sur FPGA constitue une SRAM pour le stockage des données de configuration. La perturbation de plusieurs bits constitue une menace majeure pour les FPGA en raison de l'évolution technologique et des fichiers de bits d'application complexes. Les environnements spatiaux présentent en outre des menaces de rayonnement pour ces appareils. Cet article propose une modélisation des erreurs en rafale et un outil d'injection de défauts en rafale (BUFIT) pour résoudre ces problèmes. BUFIT a été proposé avec des circuits à grains fins et à grains grossiers. Une FI basée sur FPGA instrumentée intégrée est proposée pour injecter efficacement des MBU dans la mémoire de configuration avec un taux d'adaptation à l'espace afin d'estimer avec précision les erreurs logicielles. L'évaluation du BUFIT proposé sur le FPGA cible Kintex-7 pour diverses charges de travail basées sur OR 1200 est donnée pour analyser l'accélération de la technique proposée. Les résultats sur le processeur OR 1200 montrent que BUFIT est trois et deux ordres de grandeur plus rapide que les techniques DPR et SCFIT existantes. Il utilise seulement 0,4 % de surcharge CLB et a un impact négligeable sur les FF des SFPGA cibles.
Keywords: Réseaux prédiffusés programmables sur site (FPGA); Outil d'injection adaptative de fautes (AFI); Registre à décalage à rétroaction linéaire; Multiples bouleversements de bits