(untitled) (REVUE ROUMAINE DES SCIENCES TECHNIQUES — SÉRIE ÉLECTROTECHNIQUE ET ÉNERGÉTIQUE, 2022)
Dans cet article, nous utilisons, pour l’extraction de caractéristiques d’empreintes palmaires, des descripteurs générés avec l’algorithme SIFT (Scale-invariant feature transform). L’idée principale était de générer pour chaque image du jeu de données, le même nombre de points clés. Nous en avons déduit un algorithme qui, pour une image donnée, calcule un nombre fixe de points clés SIFT. La procédure d’appariement est basée sur l’équation du rapport du plus proche voisin. Pour tester l’efficacité de notre méthode, nous avons effectué des expériences sur cinq bases de données d’empreintes palmaires bien connues. Les résultats expérimentaux indiquent que ce type d’approche donne de très bons résultats de classification. Nos résultats sont meilleurs que ceux obtenus dans certains articles récents.