2024. BUFIT: FINE-GRAINED DYNAMIC BURST FAULT INJECTION TOOL FOR EMBEDDED field programmable gate array TESTING. REVUE ROUMAINE DES SCIENCES TECHNIQUES — SÉRIE ÉLECTROTECHNIQUE ET ÉNERGÉTIQUE. 69, 3 (Sep. 2024), 299–304. DOI:https://doi.org/10.59277/RRST-EE.2024.69.3.8.