CALCULUL ANALITIC ȘI NUMERIC AL REZISTENȚEI ELECTRICE ÎNTR-UN CONTACT METALIC, MULTI-PUNCT, PENTRU CURENŢI SLABI
Cuvinte cheie:
Calcul numeric şi analitic, Rezistenţă electrică, Curenţi slabi, Contact metalic multi-punctRezumat
Problema privind rezistența specifică a contactelor electrice este încă de o importanță deosebită în special în sistemele electrice de mare complexitate sau dispozitivele de operare critică precum cele utilizate în industria auto. Au fost efectuate de-a lungul timpului un număr imens de studii pentru a dezvolta modele ușoare care să permită calcularea rezistenței de contact la interfața dintre doi conductori ținând cont de discontinuitatea suprafeței de contact. Această lucrare prezintă un studiu privind calculul rezistenței de contact a doi conductori metalici cu relații analitice și, respectiv, folosind modele numerice de calcul. Scopul acestei lucrări este de a examina diferențele dintre rezultatele obținute folosind modele analitice și modele numerice bazate pe metoda elementelor finite (FEM) în COMSOL Multiphysics.
Referințe
(1) J. Lim, H. Kim, J. K. Kim, S. J. Park, T. H. Lee, S. W. Yoon, "Numerical and Experimental Analysis of Potential Causes Degrading Contact Resistances and Forces of Sensor Connectors for Vehicles," in IEEE Access, vol. 7, pp. 126530-126538, 2019.
(2) Min LIU, A New Method for Measuring Contact Resistance‖ Beijing Orient Institute of Measurement & Test Chinese Academy of Space Technology.
(3) https://www.testequipmentdepot.com/megger/pdf/low-resistance-testing.pdf
(4) G. G. Dankat, A. A. Dobre, L. M. Dumitran, "Influence of Ageing on Electrothermal Condition of Low Current Contact," 2021 12th International Symposium on Advanced Topics in Electrical Engineering (ATEE), 2021, pp. 1-6.
(5) J. Swingler, J.W. McBride, C. Maul, The degradation of road-tested automotive connectors‖, IEEE Trans. Comp. Packag. Technol 23 (1), pp. 157–164, 2000.
(6) Wang Shujuan, Hu Fang, Su Bonan, Zhai Guofu, "Method for calculation of contact resistance and finite element simulation of contact temperature rise based on rough surface contact model," 26th International Conference on Electrical Contacts (ICEC 2012), Beijing, pp. 317-321, 2012.
(7) R.Holm, Electric Contacts, Theory and Application, Berlin: Springer-Verlag, 1967 4th Edition.
(8) M. Nakamura, I. Minowa, Computer simulation for the conductance of a contact interface, IEEE Trans. Comp., Hybrids, Manufact.Technol., vol. CHMT-9, pp. 150–155, June 1986.
(9) M. Nakamura, I. Minowa, Film resistance and constriction effect of current in a contact interface, IEEE Trans. Comp., Hybrids, Manufact. Technol., vol.CHMT-12, pp. 109–113, Mar. 1989.
(10) M. Nakamura, Constriction resistance of conducting spots by the boundary element method, IEEE Trans. Comp., Hybrids, Manufact.Technol., vol. CHMT-16, pp. 339–343, May 1993.
(11) M. Nakamura, Computer simulation for the constriction resistance depending on the form of conducting spots, IEEE Trans. Comp., Packag., Manuf. Technol., A, vol. 18, pp. 382–383, June 1995.
(12) J. A. Greenwood, Constriction resistance and the real area of contact,‖Brit. J. Appl. Phys., vol. 17, pp. 1621–1632, 1966.
(13) L. Boyer, "Contact resistance calculations: generalizations of Greenwood's formula including interface films," in IEEE Transactions on Components and Packaging Technologies, vol. 24, no. 1, pp. 50-58, March 2001.
